先进封装Underfill工艺中的四种常用的填充胶CUF,NUF,WLUF和MUF

先进封装Underfill工艺中常用的四种填充胶分别为毛细流动型底部填充胶(CUF)、非流动型底部填充胶(NUF)、晶圆级底部填充胶(WLUF)和模塑底部填充胶(MUF),以下是对它们的详细介绍:

先进封装Underfill工艺中的四种常用的填充胶CUF,NUF,WLUF和MUF

优点:应用范围广,技术成熟。

缺点

流动填充和加热固化步骤降低生产效率。

毛细流动速度慢且不充分,易导致固化后基体出现空洞。

填料分布不均问题随芯片尺寸增大和焊点尺寸减小而加剧。

潜性固化能力:保持低粘度直至形成互连焊点。

固有助焊能力:去除表面氧化物并避免挥发性物质产生。

优点

工艺步骤减少,生产效率高。

适用于所有封装层次。

缺点

填料少导致热膨胀系数较高,固化物易出现气泡和空洞。

尚未成为市场主流产品。

先进封装Underfill工艺中的四种常用的填充胶CUF,NUF,WLUF和MUF

含适当助焊剂,填料含量少或无,确保100%焊点连通率。

固化物需具备透明度、激光可加工性、低介电常数和热膨胀系数。

优点

适用于标准FC设备,生产效率高。

成本低且可靠性高。

缺点

几乎不含填料导致热疲劳稳定性问题。

仅适用于FC封装。

先进封装Underfill工艺中的四种常用的填充胶CUF,NUF,WLUF和MUF

结合注塑工艺与underfill技术,降低成本并提高生产效率(据报道可提升4倍)。

填充芯片与基板间隙的同时包覆整个芯片,增强力学稳定性。

模具填充最小间隙高度可达40μm,适合电子产品微型化需求。

优点

生产效率高,成本低。

可靠性显著提升,填充效果好(尤其适用于小芯片微小间距)。

缺点:可返修性差,一般适合FC、CSP层次的单个或多个芯片封装。

标签:Underfill,CUF,NUF